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產(chǎn)品型號(hào)：K050
更新時(shí)間：2025-12-06簡要描述：日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 KITA K050 是介于微型化與高負(fù)載之間的 平衡型彈簧探針以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點(diǎn)，適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導(dǎo)體測試場景。
深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 K050 產(chǎn)品特點(diǎn)如下：
日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 K050與標(biāo)準(zhǔn)型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負(fù)載，使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個(gè)間距，您不僅可以選擇柱塞*形狀，還可以選擇負(fù)載。您可以選擇適合您需求的型號(hào)。
KITA K050 是介于微型化與高負(fù)載之間的 平衡型彈簧探針，以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點(diǎn)，適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導(dǎo)體測試場景。
1. 設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
① 高可靠性接觸
雙層彈簧結(jié)構(gòu)：內(nèi)層提供初始接觸力，外層承擔(dān)高負(fù)載，避免單點(diǎn)疲勞失效。
冠形針頭設(shè)計(jì)：多點(diǎn)接觸模式，穿透焊盤氧化層的同時(shí)減少劃傷風(fēng)險(xiǎn)。
② 適應(yīng)性優(yōu)化
可調(diào)行程：支持定制化行程（1.8-3.0mm），適配不同PCB厚度公差。
防卡死導(dǎo)向：特氟龍涂層導(dǎo)向套，減少摩擦導(dǎo)致的卡針問題。
③ 信號(hào)完整性
低電感設(shè)計(jì)：＜1nH（1MHz下），適合高速數(shù)字信號(hào)（如DDR5）測試。
2. 典型應(yīng)用
功率模塊測試：
GBT/SiC模組的柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)測試（5A電流需求）。
電動(dòng)汽車逆變器PCB的循環(huán)耐久性驗(yàn)證。
高密度PCB檢測：
服務(wù)器主板PCIe插槽的阻抗連續(xù)性檢查。
5G基站射頻模塊的焊點(diǎn)導(dǎo)通性測試。
3. 核心參數(shù)
| 特性 | 參數(shù)值/描述 |
|---|---|
| 針徑 | 0.50 mm（平衡尺寸與強(qiáng)度） |
| 額定電流 | 5A（瞬態(tài)峰值可達(dá)8A） |
| 工作負(fù)載 | 500-800gf（穩(wěn)定接觸氧化表面） |
| 行程范圍 | 2.0-2.5 mm（優(yōu)化緩沖行程） |
| 接觸電阻 | ≤25mΩ（鍍金觸點(diǎn)，低衰減） |
| 機(jī)械壽命 | ≥80萬次（標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載） |
| 耐溫范圍 | -40°C ~ +150°C（高溫可選型號(hào)） |
4. 核心型號(hào)參數(shù)對比
| 型號(hào) | 額定電流 | 最大負(fù)載 (gf) | 行程 (mm) | 針徑 (mm) | 特點(diǎn) |
|---|---|---|---|---|---|
| K039 | 3A | 300-500 | 1.5-2.0 | 0.39 | 微型化設(shè)計(jì)，高密度測試 |
| K050 | 5A | 500-800 | 2.0-2.5 | 0.50 | 平衡負(fù)載與壽命 |
| K075 | 7A | 800-1200 | 2.5-3.0 | 0.75 | 高電流/高耐久性 |
| K100 | 10A | 1200-1500 | 3.0-4.0 | 1.00 | 強(qiáng)負(fù)載，工業(yè)級(jí)應(yīng)用 |
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